贵金属检测仪XF-A5S

  XF-A5S贵金属成分无损检测仪是西凡仪器面向贵金属成分无损检测的一款X射线荧光光谱仪,可广泛应用于珠宝首饰工厂以及回收等行业和单位。该产品采用目前*先进的进口定制Si-PIN探测器,内置十核CPU工控电脑,采用全新的垂直光路。检测速度快,测试稳定性好、准确性高,性价比极高。


贵金属检测仪XF-A5S产品展示

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贵金属检测仪XF-A5S测试软件界面展示

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贵金属检测仪XF-A5S仪器原理图展示



贵金属检测仪XF-A5S产品特点

元素检测范围:钾(No.19)~铀(No.92)

可支持*多30个元素同时计算

分析范围:0.01%~99.99%

检测精度:±0.03%(9999金)

检测样品:固体/液体/粉末

定制TCP/IP协议API接口,支持外网对设备的控制、状态监控及数据采集

支持多点连续测试,测试效率高

内置ARM十核XRF专用电脑+Linux内核,无惧木马和病毒软件

选装10工位转盘,自动连续测试10个样品



贵金属检测仪XF-A5S核心部件

探测器:AMPTEK定制版Si-PIN探测器

内置工控电脑:NXP IMX8四核Cortex-A53 XRF专用电脑

高压电源:50KV/1mA数字高压电源

X射线管:50KV/1mA

窗口材料:玻璃窗

靶材:钨

焦点:ϕ 0.5mm

准直器:ϕ2.5mm



贵金属检测仪XF-A5S核心部件产品规格

输入电压:AC100~240V,50Hz

产品包装尺寸:565mmx535mmx500mm

产品尺寸:450mmx422mmx378mm

样品舱尺寸:366mmx336mmx141mm

额定功率:<150W

毛重:47KG

净重:35KG

噪音:50dB

使用环境:

温度:15℃~31℃

湿度:<70%(不结露)



选择西凡贵金属检测仪XF-A5S的四大理由

无损检测

1、贵金属的稀缺与宝贵,让灰吹法等传统的破坏性检测方法越来越不适用,市场上迫切需要一种快速、准确、无损的检测方法,而X射线荧光光谱法无非是很好的贵金属无损检测方法。

规避交易风险

2、社会上金银首饰掺假现象时有发生,不论是商家还是顾客都为此蒙受巨大的损失,而西凡科技的金银检测仪可以让金银首饰的真实含量准确呈现,在这种公平公开的市场环境下,自然可以规避交易风险。

诚信展示

3、金银首饰的掺假现象,让顾客对商家产生了不信任,而商家借助金银检测仪可以将诚信经营的形象展现给顾客。

提升竞争力

4、客户的信任能给珠宝首饰店带来更多的营业收入,从而提升了市场竞争力。当前国内外许多珠宝店都配备有金银检测仪,这也是他们在行业里能保持强大竞争力的原因之一。


产品荣誉证书

CE,FCC等权威认证证书

西凡仪器资质

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