在贵金属检测领域,传统的分析方法如试金石法、灰吹法、火试金法等都属于破坏性检测,具有消耗性和危险性,且样品的制备过程耗时更长。而X射线荧光光谱法的技术相对成熟,可以达到即时分析,无损检测,不需要任何耗材,并且检测精度可以达到小数点后四位数,是我国普及型贵金属检测技术的发展方向。西凡仪器制造的金银检测仪引用的就是X射线荧光光谱法这种先进的贵金属检测技术。
贵金属检测仪XF-A6是西凡仪器根据多年的贵金属检测技术和经验,自主研发生产的X射线荧光光谱检测仪之一,是一款中端配置的全元素高端检测仪。它配备了进口Si-Pin探测器,采用航空设计,高端大气,拥有十多项研发专利,性能突出,体积小重量轻,符合新国标GB18043-2013,可对金银首饰进行准确检测。
贵金属检测仪XF-A6产品展示
贵金属检测仪XF-A6产品优势
性价比高
可以快速准确检测各种贵金属,应用广泛!
无损检测
不会对珠宝首饰等被测样品造成任何损坏。
操作简单智能
独有一键测试功能,自动化检测无需配备专业人员
检测快速
3秒定性,7秒可得出直观结果。
便于携带
一体化设计,占用空间小,便于携带与管理。
安全耐用
具备反辐射功能,整机寿命超过10年
精准度高
可靠的检测数据。
操作安全
加装防辐射装置,主动保护操作人员安全。
贵金属检测仪XF-A6技术参数
设备原理:X荧光能量色散
精确度: ±0.05%
整机分辨率:145±5eV
探测器: 进口Si-PIN探测器
适用温度: -11~46℃
内置电容触摸LED屏:是(9.7吋OLED)
标签打印机:支持
仪器尺寸::312x480x310mm
测试室尺寸:300x240x110mm
天平/密度仪:支持
是否电脑:电脑一体机
电压: 100V~240V
额定功率:160W
重量:22公斤
贵金属检测仪XF-A6标准配置
主动式射线保护
全局故障诊断
扩展线材及辅助支架
高压过压保护
升降压预启动
光管过执保护
扩展屏
西凡仪器荣誉证书

