贵金属检测仪XF-A6

产品介绍


在贵金属检测领域,传统的分析方法如试金石法、灰吹法、火试金法等都属于破坏性检测,具有消耗性和危险性,且样品的制备过程耗时更长。而X射线荧光光谱法的技术相对成熟,可以达到即时分析,无损检测,不需要任何耗材,并且检测精度可以达到小数点后四位数,是我国普及型贵金属检测技术的发展方向。西凡仪器制造的金银检测仪引用的就是X射线荧光光谱法这种先进的贵金属检测技术。

贵金属检测仪XF-A6是西凡仪器根据多年的贵金属检测技术和经验,自主研发生产的X射线荧光光谱检测仪之一,是一款中端配置的全元素高端检测仪。它配备了进口Si-Pin探测器,采用航空设计,高端大气,拥有十多项研发专利,性能突出,体积小重量轻,符合新国标GB18043-2013,可对金银首饰进行准确检测。

一台小巧精致的XF-A6贵金属检测仪


产品优势

性价比高

可以快速准确检测各种贵金属,应用广泛!

无损检测

不会对珠宝首饰等被测样品造成任何损坏。

操作简单智能

独有一键测试功能,自动化检测无需配备专业人员

检测快速

3秒定性,7秒可得出直观结果。

便于携带

一体化设计,占用空间小,便于携带与管理。

安全耐用

具备反辐射功能,整机寿命超过10年

精准度高

可靠的检测数据。

操作安全

加装防辐射装置,主动保护操作人员安全。


XF-A6技术参数

设备原理:X荧光能量色散

精确度: ±0.05%

整机分辨率:145±5eV

探测器: 进口Si-PIN探测器

适用温度: -11~46℃

内置电容触摸LED屏:是(9.7吋OLED)

标签打印机:支持

仪器尺寸::312x480x310mm

测试室尺寸:300x240x110mm

天平/密度仪:支持

是否电脑:电脑一体机

电压: 100V~240V

额定功率:160W

重量:22公斤


标准配置

主动式射线保护    

全局故障诊断  

扩展线材及辅助支架

高压过压保护  

升降压预启动

光管过执保护

扩展屏


产品荣誉证书

CE,FCC等权威认证证书
西凡仪器资质

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