XF-P1镀层测厚仪是西凡仪器面向镀层无损检测的一款X射线荧光光谱仪,可广泛应用于各种电镀、化学镀等行业。该产品使用进口定制Si-PIN探测器,内置四核CPU工控电脑,运行Smart FP算法。无需标样,可同时检测镀层厚度和成分,检测速度快,测试稳定性好、准确性高。
镀层测厚仪XF-P1产品展示
镀层测厚仪XF-P1产品特点
元素检测范围:铝(No.13)~铀(No.92)
可支持*多四层检测
可同时支持镀层厚度和成分检测
检测精度:0.001um(厚度)
±0.02%(成分)
定制TCP/IP协议API接口,支持外部主机对设备的控制、状态监控及数据采集
支持多点连续测试,测试效率高
三准直器自动切换
XY平面微动平台,轻松多点测试小样品
铅玻璃窗口,方便观察样品
镀层测厚仪XF-P1产品规格
输入电压:交流100~240V,50Hz
产品包装尺寸:615mmx555mmx480mm
产品尺寸:500mmx400mmx368mm
样品腔尺寸:380mmx320mmx155mm
额定功率:<150W
毛重:59KG
净重:46KG
噪音:50dB
使用环境:
温度:15℃~31℃
湿度:<70%(不结露)
镀层测厚仪XF-P1核心部件
探测器:AMPTEK定制版Si-PIN探测器
内置工控电脑:Intel I3四核+Windows11
高压电源:50KV/1mA数字高压电源
X射线管:50KV/1mA
窗口材料:铍窗
靶材:钨
焦点:ϕ 0.5mm
准直器:ϕ0.5mm/ ϕ1.0mm/ ϕ2.0mm